技術(shù)編號(hào)：12711494
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光電探測(cè)器檢測(cè)校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種可調(diào)微弱光發(fā)生裝置。背景技術(shù)光電探測(cè)器檢測(cè)校準(zhǔn)技術(shù)是光學(xué)與電子學(xué)結(jié)合而產(chǎn)生的一門新興檢測(cè)技術(shù)。它包含兩個(gè)主要方面，第一是光源強(qiáng)度的測(cè)量，即光輻射源檢測(cè)；第二是光電探測(cè)器探測(cè)響應(yīng)度、線性度等特性的檢測(cè)。微弱光檢測(cè)技術(shù)是光輻射及光電探測(cè)器檢測(cè)及校準(zhǔn)技術(shù)領(lǐng)域低量程的范疇，因此也包含了上述的兩個(gè)方面：光源和光探測(cè)器。現(xiàn)有的微弱光檢測(cè)技術(shù)通常是先將光信號(hào)通過高靈敏度光電器件轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，再經(jīng)前置放大電路放大后，由A/D轉(zhuǎn)換電路將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)進(jìn)行分...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。