技術(shù)編號:1274458
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種用于多層X射線計算機斷層掃描系統(tǒng)的可調(diào)式光子探測系統(tǒng),以及采用可調(diào)式光子探測系統(tǒng)(APDS)的多層X射線CT系統(tǒng);其中,APDS可以被調(diào)節(jié)以對準不同的X射線源位置;多層X射線CT系統(tǒng)包括一個或多個X射線源,一個或多個APDS;多層X射線CT系統(tǒng)也可以包括探測器位置計算裝置以計算有效探測器位置,以及探測器位置校正裝置以使用計算的有效探測器位置校正投影數(shù)據(jù)。專利說明用于多層X射線計算機斷層掃描系統(tǒng)的可調(diào)式光子探測系統(tǒng)[0001]本發(fā)明涉及一種多...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。