技術(shù)編號:12746960
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種測試方法和一種芯片。背景技術(shù)隨著便攜式電子產(chǎn)品市場的快速增長,應(yīng)用在這些電子產(chǎn)品中的芯片也隨著有了迅猛發(fā)展,而測試是決定芯片能否量產(chǎn)的重要因素?,F(xiàn)有開放式NAND閃存接口(OpenNANDFlashInterface,ONFI)分為x8和x16兩種數(shù)據(jù)接口類型,其中,x8數(shù)據(jù)接口類型的ONFI有8個輸入輸出(input/output,I/O)接口,x16數(shù)據(jù)接口類型的NANDFLASH有16個I/O接口。以x8數(shù)據(jù)接口類型的ONFI為例,現(xiàn)有的測試方法數(shù)據(jù)以...
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