技術(shù)編號：12747007
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及天線/場探頭的校準(zhǔn)技術(shù)，尤其涉及一種天線/場探頭外推法校準(zhǔn)用的精密行走裝置以及校準(zhǔn)系統(tǒng)。背景技術(shù)微波天線增益/系數(shù)以及微波場探頭校準(zhǔn)因子的校準(zhǔn)一般是在微波暗室進(jìn)行的，由于微波暗室吸波材料不夠理想，存在墻面發(fā)射，反射波與直射波合成使得測試空間形成駐波，這不是理想的均勻平面波，接收點(diǎn)的場強(qiáng)與理論場強(qiáng)就會不同，從而就會帶來場地誤差。另外，天線校準(zhǔn)和場探頭校準(zhǔn)是在有限距離(1～3)m的近場進(jìn)行，采用近似公式、天線間耦合則會引入近場測量誤差。最新研究表明，采用外推法可以大大降低了場地誤差和近場測...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。