技術(shù)編號(hào)：12784001
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)涉及設(shè)備的性能測(cè)試技術(shù)，尤其涉及設(shè)備性能測(cè)試的方法和裝置。背景技術(shù)目前對(duì)于設(shè)備的性能測(cè)試主要是對(duì)響應(yīng)時(shí)長的測(cè)試，但是響應(yīng)時(shí)長的測(cè)試結(jié)果容易受到操作系統(tǒng)自身的波動(dòng)、測(cè)試工具采樣和測(cè)試執(zhí)行方式等原因的影響，造成測(cè)試數(shù)據(jù)的波動(dòng)性?，F(xiàn)有技術(shù)中，為了避免測(cè)試數(shù)據(jù)的波動(dòng)性，通常需要進(jìn)行大量的測(cè)試次數(shù)來排除受影響的測(cè)試數(shù)據(jù)，以得到期望的測(cè)試結(jié)果。有的測(cè)試場(chǎng)景可能需要的測(cè)試次數(shù)大概需要500次才能得到期望的測(cè)試結(jié)果，因此測(cè)試效率很低。發(fā)明內(nèi)容本申請(qǐng)?zhí)峁┰O(shè)備性能測(cè)試的方法和裝置，能夠提高測(cè)試效率。根據(jù)本申請(qǐng)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。