技術(shù)編號：12817203
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。粒子濃度分布均勻的試樣制作裝置和納米粒子膜成膜裝置本申請為下述申請的分案申請，原申請的申請日(國際申請日)：2013-06-04，原申請的申請?zhí)枺?01380029887.0(國際申請?zhí)朠CT/JP2013/065503)，原申請的發(fā)明名稱：微粒分級測定裝置、粒子濃度分布均勻的試樣制作裝置、以及納米粒子膜成膜裝置。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及適合使用于汽車廢氣中的納米微粒濃度的監(jiān)測、大樓衛(wèi)生管理、勞動安全衛(wèi)生等的微粒測定裝置，特別是涉及根據(jù)粒徑分級測定微粒的微粒分級測定裝置、粒子濃度分布均勻的試樣制作裝置...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。