技術(shù)編號：12821467
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種減振撓性接管變形測量裝置，適用于用減振撓性接管安裝變形測量，也可以用于對撓性接管長時間間隔變形的測量。背景技術(shù)目前，測量幾何變形的方法主要可分為機械測量和光學測量兩大類。機械測量的方法比較簡單，但通常只能用于幾何變形較大的測量。光學測量方法主要有貼片光彈法、激光散斑法、白光散斑法等。貼片光彈法通常用于應力梯度較大，且表面近似為平面的測量；激光散斑法一般用于測量微小物體的幾何變形，且對于測試環(huán)境要求較高，在振動和噪聲較大的環(huán)境下無法進行；白光散斑法對于測試環(huán)境要求不高，通常用于平面的...
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