技術(shù)編號:12831584
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種檢測裝置,具體是一種改進(jìn)的平面度檢測裝置。背景技術(shù)平面度是指基片具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。公差帶是距離為公差值t的兩平行平面之間的區(qū)域。平面度屬于形位誤差中的形狀誤差。平面度測量是指被測實(shí)際表面對其理想平面的變動(dòng)量。平面度誤差是將被測實(shí)際表面與理想平面進(jìn)行比較,兩者之間的線值距離即為平面,平面度誤差值;或通過測量實(shí)際表面上若干點(diǎn)的相對高度差,再換算以線值表示的平面度誤差值。平面度檢測是現(xiàn)在高精度加工領(lǐng)域內(nèi)必須的檢測步驟之一,現(xiàn)在各類檢測設(shè)備很多,但是結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜,不...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。