技術(shù)編號(hào)：12832278
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及實(shí)驗(yàn)設(shè)備，具體涉及一種用于電子元件老化篩選試驗(yàn)的設(shè)備。背景技術(shù)電子元器件是電子設(shè)備的基礎(chǔ)。由于電子設(shè)備具有通電時(shí)間長，使用范圍寬，使用環(huán)境差異較大的特點(diǎn)，因此系統(tǒng)的可靠性很大程度上取決于元器件的可靠性,所以使用前對(duì)電子元器件的檢驗(yàn)和老化篩選顯得尤為重要。老化篩選的原理及作用，是給電子元器件施加熱的、電的、機(jī)械的或者多種結(jié)合的外部效應(yīng)力，模擬惡劣的工作環(huán)境，使它們內(nèi)部的潛在故障加速暴露出來，篩選剔除那些失效或參數(shù)變化了的元器件，盡可能把早期失效消滅在正常使用之前。元器件老化篩選試驗(yàn)臺(tái)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。