技術(shù)編號:12875365
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種測試臺,特別是適于測試不同待測裝置的多用測試臺。背景技術(shù)在工業(yè)設(shè)計和生產(chǎn)中,工程師需要對產(chǎn)品進行測試以取得所需參數(shù)并獲知產(chǎn)品性能。需要合適的測試臺以放置待測產(chǎn)品。例如,在X射線探測器的生產(chǎn)中,需要能夠放置X射線探測器的測試臺,以對X射線探測器進行測試。在測試中,希望測試臺高度可調(diào)節(jié),以實現(xiàn)X射線探測器和對其發(fā)射X射線的球管之間的不同距離,從而滿足測試需要。此外,還希望測試臺可以適用于不同類型(不同形狀)的X射線探測器。目前常用的測試臺均具有平坦臺面,不適合于底部具有非平坦形狀或...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。