技術(shù)編號(hào)：12907964
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于微電子技術(shù)領(lǐng)域，涉及半導(dǎo)體集成電路與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝兼容的低功耗高速高精度比較器電路。背景技術(shù)比較器將輸入模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，是模擬到數(shù)字的一個(gè)重要接口，廣泛運(yùn)用于模數(shù)轉(zhuǎn)換器，數(shù)模轉(zhuǎn)換器等電路。在金屬氧化物半導(dǎo)體器件中，電子元件易發(fā)生工作特性變化，該變化通常表現(xiàn)為閾值電壓電平的移動(dòng)。例如，在比較器電路中,差分對(duì)中的失配和電流源中的失配可以導(dǎo)致比較器偏移，所述比較器偏移是電壓偏移，其通過(guò)影響輸入電壓與基準(zhǔn)電壓之間的比較性能而限制了比較器的精度。比較器偏移量不僅作為隨機(jī)器件失配的結(jié)果出...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無(wú)完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。