技術(shù)編號(hào)：12915270
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及IP核自動(dòng)測試集成領(lǐng)域，特別是涉及測試殼設(shè)計(jì)方法及裝置。背景技術(shù)隨著集成電路工藝的進(jìn)步和人們對(duì)集成電路性能以及上市時(shí)間要求的不斷提高，片上系統(tǒng)(SOC)技術(shù)已經(jīng)成為當(dāng)今集成電路的發(fā)展趨勢和技術(shù)主流。IP核(CPU、DSP、MEM等都是IP核)作為一個(gè)子模塊，嵌入到SOC內(nèi)部，其輸入輸出端口并不能在SoC頂層訪問，其輸入輸出端口不能在SOC頂層訪問。IEEESTD1500標(biāo)準(zhǔn)是專為解決SOC中嵌入式IP核的測試訪問、隔離、控制等測試問題而開發(fā)的一個(gè)測試標(biāo)準(zhǔn)。IEEESTD1500標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。