技術(shù)編號:24448
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。專利摘要本實用新型涉及一種芯片測試治具,屬于電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域。該芯片測試治具包括本體、銅塊和護板,銅塊位于所述的本體和護板之間;該芯片測試治具還包括若干測試針,所述的本體、銅塊和護板的對應(yīng)位置上分別設(shè)置有若干測試針通孔,所述的測試針設(shè)置于所述的測試針通孔內(nèi)。所述的測試針通孔不采用全針腔設(shè)計,從而能夠適用于高頻率的芯片測試,且結(jié)構(gòu)簡單,成本低廉的芯片測試治具。專利說明芯片測試治具 技術(shù)領(lǐng)域 [0001]本實用新型涉及電子產(chǎn)品技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及芯片技術(shù)領(lǐng)域,具體是指一種芯片測試治具。 背景技術(shù) [0002]隨著...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。