技術(shù)編號(hào):2509758
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種,尤其是涉及一種更為安全的。背景技術(shù)現(xiàn)有的,晶圓下線后的第一步是給晶圓打標(biāo),也就是采用laser (激光)的方法在晶圓的正上方打出晶圓的批號(hào)(如A1234),而這一批號(hào)是由許多小孔排列而成的。打標(biāo)處是凹陷的,而打標(biāo)的副產(chǎn)物則會(huì)堆積在凹坑的四周,形成突起,副產(chǎn)堆積物高度為1000 8000nm,其問題在于打標(biāo)孔旁邊的副產(chǎn)堆積物高度是不穩(wěn)定,在后續(xù)STI-CMP研磨過程中,由于而STI-CMP對(duì)表面的副產(chǎn)堆積物比較敏感,一旦副產(chǎn)堆積物的高度和硬...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。