技術(shù)編號(hào)：2684879
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及多級(jí)馬赫-曾德爾干涉儀型光電路特性的調(diào)整方法以及由相同方法調(diào)整其特性的多級(jí)馬赫-曾德爾干涉儀型光電路。為了在多級(jí)馬赫-曾德爾干涉儀型光電路中實(shí)現(xiàn)理想的特性，有必要在每一級(jí)將單個(gè)干涉儀之間的光路長(zhǎng)度差準(zhǔn)確地設(shè)置為小于光信號(hào)波長(zhǎng)。但是，由于制造過程中的誤差，光路長(zhǎng)度差可能偏離設(shè)計(jì)值，由此而經(jīng)常導(dǎo)致相位誤差。作為補(bǔ)償相位誤差的裝置，提供了用于控制單個(gè)干涉儀折光系數(shù)的相位控制裝置，使得它們可以通過控制折光系數(shù)在干涉儀中對(duì)光信號(hào)進(jìn)行相位控制。因此，有必要在...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。