技術(shù)編號：2710415
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種測基板缺陷的檢測方法，該檢測方法包括S1、獲取待檢測基板的圖像；其中，所述檢測方法還包括精檢步驟，該精檢步驟包括S2、判斷所述待檢測基板的圖像中上是否存在第一缺陷區(qū)；當(dāng)所述待檢測基板的圖像中存在所述第一缺陷區(qū)時(shí)，所述精檢步驟包括S3、將所述第一缺陷區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第一純色，將所述圖像中的正常區(qū)內(nèi)的像素的顏色轉(zhuǎn)換為第二純色。本發(fā)明還提供一種檢測裝置。在本發(fā)明所提供的檢測方法中，提高了所述第一缺陷區(qū)與所述正常區(qū)的對比度，便于檢驗(yàn)員區(qū)分第一缺...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。