技術(shù)編號：2752944
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及硬件電路板的測試方法，具體涉及。背景技術(shù)隨著電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用，人們對電子產(chǎn)品的品質(zhì)要求也日益提高，電子產(chǎn)品的壽命已經(jīng)成為產(chǎn)品質(zhì)量優(yōu)劣的一個重要標(biāo)準(zhǔn)。然而，產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷、 工藝的失控、設(shè)備的不穩(wěn)定等相關(guān)客觀因素制約，不可避免的導(dǎo)致了部分電子產(chǎn)品出廠時就存在著潛在的非設(shè)計性缺陷，而產(chǎn)品出廠后潛在的缺陷會逐步暴露并導(dǎo)致產(chǎn)品快速失效，產(chǎn)品壽命極大縮短。產(chǎn)品到市場后出現(xiàn)的故障分布可用工業(yè)生產(chǎn)中常用的“浴盆曲線”表示。處于“浴盆曲線”前...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。