技術(shù)編號：29605
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要內(nèi)建式集成電路芯片自動老化測試裝置，涉及集成電路測試、可靠性考核測試領(lǐng)域。本實用新型包括復(fù)位模塊、時鐘信號模塊、電源模塊和整齊排列的眾多測試單元。每個測試單元上分別包括放置待測芯片的芯片座和狀態(tài)顯示燈，每個待測芯片上置有存儲器模塊。復(fù)位模塊、時鐘信號模塊和電源模塊分別連接到各測試單元，電源模塊分別給復(fù)位模塊、時鐘信號模塊和各測試單元供電。同現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型無需使用自動測試儀就能實時對芯片完成測試和驗證，具有節(jié)約成本和高效、準(zhǔn)確的特點。專利說明內(nèi)建式集成電路芯片自動老化測試裝置 技術(shù)領(lǐng)域 [000...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。