技術(shù)編號(hào)：2979689
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及質(zhì)譜儀和用于根據(jù)帶電粒子的荷質(zhì)比檢測(cè)帶電粒子的質(zhì)譜分析方法。 所公開的技術(shù)具有多種應(yīng)用，包括混合粒子的分類、粒子的識(shí)別、物質(zhì)檢測(cè)和物質(zhì)提純。背景技術(shù)質(zhì)譜是眾所周知的并且涉及通過利用電場(chǎng)和/或磁場(chǎng)操縱帶電粒子以獲得從粒子的荷質(zhì)比(q/m)得出的結(jié)果。在一個(gè)例子中，使用帶電板將已電離的分子加速到與垂直磁場(chǎng)交叉的區(qū)域中。由于粒子的運(yùn)動(dòng)，在每個(gè)粒子上產(chǎn)生洛倫茲力，使得粒子的軌跡彎曲。 彎曲的程度將取決于分子的質(zhì)量和電荷較重并且/或者較低電荷的粒子比較輕并...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。