技術(shù)編號(hào)：34878
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本實(shí)用新型一種垂直磁化薄膜測試裝置，涉及電磁檢測裝置。它的激光器經(jīng)起偏棱鏡向設(shè)置在電磁鐵磁場氣隙中的樣品架投射入射光，光電檢測器經(jīng)檢偏棱鏡接收樣品架上被測磁性薄膜反射的光信號(hào)；磁場掃描電源與電磁鐵成電連接；電磁鐵為磁場氣隙為30mm時(shí)磁場強(qiáng)度不低于1T的單線包雙軛電磁鐵，座放時(shí)磁場方向水平，在無線包側(cè)的極頭軸線上打有直通磁場氣隙的通光孔；樣品架上設(shè)有四個(gè)成十字形分布的可調(diào)節(jié)導(dǎo)電探針；恒流源輸出端口連接樣品架上一對(duì)相對(duì)的導(dǎo)電探針，納伏表輸入端口連接樣品架上另一對(duì)導(dǎo)電探針；計(jì)算機(jī)兩個(gè)控制輸出端口分別連接磁場掃描...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。