技術編號：40430991
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本技術涉及一種半導體二次配用測試工作臺，屬于半導體測試。背景技術、半導體測試是半導體設計、生產、封裝、測試流程中的重要步驟，主要使用特定器具對待檢器件進行檢測，以區(qū)分缺陷、驗證器件是否符合設計目標，分離好品與壞品。半導體測試可以確保生產芯片達到要求的良率，降低成本浪費，同時提供有效的測試數(shù)據(jù)，改善設計與制造。半導體測試工作臺在對半導體測試過程中起著至關重要的作用，然而，現(xiàn)有的半導體測試平臺在使用過程中測試模塊的接口單一，只能與特定類型的測試設備或系統(tǒng)相連，而無法適應其他類型的設備或系統(tǒng)，使用不...
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