技術編號：40456868
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。背景技術技術實現(xiàn)思路、本公開提供了用于檢測粒子的方法和系統(tǒng)。在示例性方法中，包括粒子的樣品流體可以從樣品入口通道被驅動通過匯合區(qū)域并且進入限定縱向軸線的樣品出口通道中。聚焦流體可以沿相應的引入軸線從至少兩個聚焦通道被引入到匯合區(qū)域中。引入可以是圍繞縱向軸線旋轉非對稱的。引入軸線和縱向軸線可以共同地在三維中延伸。粒子可以穿過樣品出口通道的詢問區(qū)。詢問區(qū)可以用光來照射?？梢詮脑儐枀^(qū)檢測到光學輻射。...
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