技術編號:40530626
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及雷達,尤其涉及一種雷達通道校準方法、裝置及存儲介質(zhì)。背景技術、由于天線加工誤差、饋線走線的長度誤差以及天線互耦等因素的影響,雷達的多通道存在幅相不一致,導致雷達的測向結(jié)果存在誤差,甚至測向出錯。因此,為了實現(xiàn)雷達的測向功能,需要對雷達的多通道進行幅相校準。幅相校準需要在暗室中進行,通過在已知的多個角度放置角反,同時雷達采集數(shù)據(jù),估算出各通道的幅相校準系數(shù)。、暗室校準前,需要保證承載雷達的伺服在方位和俯仰度時,目標角反正好位于雷達的法線上,且雷達自身沒有發(fā)生橫滾。常用技術中,把伺...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。