技術(shù)編號(hào)：40546225
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電力電子器件的熱測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種基于維納濾波器的電子器件熱特性評(píng)估方法。背景技術(shù)、伴隨著寬禁帶半導(dǎo)體器件的飛速發(fā)展，以sic、gan材料為核心的功率器件在高頻、高壓、大電流的工作環(huán)境下逐步占據(jù)重要地位。隨著工作強(qiáng)度和工作時(shí)長的增加，器件內(nèi)部的熱累計(jì)現(xiàn)象愈發(fā)劇烈，嚴(yán)重影響了器件的工作特性和使用壽命。因此，需要這樣一種測(cè)試方法，能夠針對(duì)由熱累計(jì)現(xiàn)象引起的器件內(nèi)部各層導(dǎo)熱特性的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。、在針對(duì)熱累計(jì)現(xiàn)象進(jìn)行監(jiān)測(cè)的方法中，結(jié)構(gòu)函數(shù)法是現(xiàn)階段研究中使用最廣泛的方法。該方法是一...
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