技術(shù)編號：40548772
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及測試，尤其涉及電芯的循環(huán)老化測試及性能評估方法、設(shè)備、系統(tǒng)及存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、電芯使用過程中，電芯的sei（solid?electrolyte?interphase，固體電解質(zhì)界面）膜會出現(xiàn)增厚，以及正負(fù)極極片會發(fā)生反彈，導(dǎo)致電芯膨脹力發(fā)生不可逆的增大。為了電芯膨脹力不能超過電芯結(jié)構(gòu)件的設(shè)計(jì)強(qiáng)度，需要對電芯進(jìn)行老化測試。、在老化測試過程中，一般基于電芯的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，控制電芯循環(huán)充放電。以驗(yàn)證電芯膨脹力的增大程度，是否超過電芯的結(jié)構(gòu)件的設(shè)計(jì)強(qiáng)度。從而導(dǎo)致常規(guī)的循環(huán)充放電測試方式的測試...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。