技術(shù)編號：40553792
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及電子設(shè)備測試，特別涉及一種測試方法和測試系統(tǒng)。背景技術(shù)、微波加熱設(shè)備在產(chǎn)生微波對腔體中的負載進行加熱時，由于微波加熱腔體不是完全封閉的(如門體與腔體之間有縫隙)，會有很小的微波泄露(此微波泄露是滿足國家安全標準的)，這些泄露的微波也會對微波加熱設(shè)備的零件，如控制板、控制器等產(chǎn)生干擾，影響相關(guān)部件的正常工作，例如導(dǎo)致控制板上的顯示裝置閃爍或控制板復(fù)位不工作等。因此，有必要對相關(guān)零部件進行抗電磁干擾特性的測試。技術(shù)實現(xiàn)思路、本發(fā)明提供了一種測試方法和測試系統(tǒng)。、本發(fā)明實施方式提供的一...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。