技術(shù)編號：40556687
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于無損檢測，涉及一種提高壓力真空法氦質(zhì)譜檢漏系統(tǒng)靈敏度的方法。背景技術(shù)、隨著航天器高頻率發(fā)射，泄漏事件屢屢發(fā)生，通過系統(tǒng)調(diào)研發(fā)現(xiàn)承壓產(chǎn)品泄漏在總裝試驗和發(fā)射前試驗等環(huán)節(jié)均有發(fā)生，造成了較大損失。為了嚴格把控承壓產(chǎn)品的密封質(zhì)量，設(shè)計人員對承壓產(chǎn)品的密封性能提出了越來越高的要求，一般總漏率指標要求為-～-pa·m/s。、壓力真空法氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)具有系統(tǒng)靈敏度高、易實施和檢測效率高等優(yōu)點，被廣泛應(yīng)用于承壓產(chǎn)品的總漏率檢測中。由于承壓產(chǎn)品檢漏具有檢測壓力高，產(chǎn)品數(shù)量多，工裝容易...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。