技術(shù)編號：40558254
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及芯片時鐘檢測，特別是涉及一種時鐘失效檢測方法、裝置、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)和計算機(jī)程序產(chǎn)品。背景技術(shù)、系統(tǒng)級芯片(system?on?chip，簡稱soc芯片)的運行安全一般和時鐘運行狀態(tài)相關(guān)。一旦出現(xiàn)時鐘頻率低于或高于正常范圍，甚至?xí)r鐘消失的情況時，容易導(dǎo)致系統(tǒng)級芯片的電路無法正常工作。因此，需要對系統(tǒng)級芯片進(jìn)行時鐘失效檢測。、系統(tǒng)級芯片的時鐘一般來源于外部時鐘源和/或內(nèi)部時鐘源。外部時鐘源是一種基于晶振實現(xiàn)的時鐘源，能夠提供穩(wěn)定而準(zhǔn)確的時鐘信號。內(nèi)部時鐘源是一種基于內(nèi)部電阻電容振蕩器實...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。