技術(shù)編號：40564553
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及存儲芯片測試?yán)匣?，具體是多通道存儲芯片測試?yán)匣Y(jié)構(gòu)。背景技術(shù)、在測試存儲芯片老化時(shí)，需要將芯片陣列排布在老化實(shí)驗(yàn)板的卡槽內(nèi)上，然后將實(shí)驗(yàn)板放至設(shè)備的老化實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)，緊接著將老化實(shí)驗(yàn)箱的箱門關(guān)閉，使實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)部形成一個(gè)密封的環(huán)境，實(shí)驗(yàn)時(shí)從老化實(shí)驗(yàn)箱的數(shù)字通道向芯片輸入測試向量，使整顆芯片處于工作狀態(tài)，為了數(shù)據(jù)的精確性，需要對多種不同的向量數(shù)據(jù)進(jìn)行測試，而目前裝置在測試過程中，只能對單一向量進(jìn)行測試比對，因此需要進(jìn)行多次的測試，耗費(fèi)更多的時(shí)間，十分影響測試效率。、基于此，現(xiàn)在提供多通道存儲...
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