技術(shù)編號：40564755
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域，具體而言，涉及一種內(nèi)存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設(shè)備。背景技術(shù)、應(yīng)理解的是，內(nèi)存產(chǎn)品內(nèi)存測試的過程中，通常情況下連續(xù)的內(nèi)存空間測試的效果更加顯著。因此，相關(guān)技術(shù)中可以將測試程序運行在具有獨立存儲器與處理器的測試設(shè)備上，然后，通過特定的總線訪問待測試內(nèi)存并對其連續(xù)的存儲區(qū)間進行讀寫測試。然而，該方式并不適用于那些直接集成在電路板上的內(nèi)存產(chǎn)品。、因此，對于這些內(nèi)存產(chǎn)品，需要將測試程序加載到內(nèi)存中，再利用電路板上的處理器從內(nèi)存中運行測試程對內(nèi)存產(chǎn)品進行測試。然而，實踐過程...
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