技術(shù)編號：40565248
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)屬于topcon太陽能電池，具體涉及一種topcon電池實(shí)驗(yàn)用橢圓偏正光譜儀。背景技術(shù)、在通過系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)測試手段表征topcon太陽能電池激光掃描導(dǎo)致膜層損傷情況的實(shí)驗(yàn)中，需要通過橢圓偏正光譜儀(簡稱橢圓偏正儀)測試實(shí)驗(yàn)前后電池片正面sinx膜厚，從而得出不同的偏置電壓對電池的sinx膜厚損傷情況。、目前，橢圓偏正儀主要由起偏器、檢偏器和樣品臺等部件組成，為了最大程度上優(yōu)化橢圓偏正儀的測試靈敏度，以適應(yīng)不同待測膜層結(jié)構(gòu)，要求入射角也就是起偏器的角度能夠根據(jù)需求進(jìn)行靈活調(diào)整，反射角也就是...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。