技術(shù)編號(hào)：40567576
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明關(guān)于快閃存儲(chǔ)器，尤指一種可提高數(shù)據(jù)完整性與數(shù)據(jù)儲(chǔ)存設(shè)備可靠性的數(shù)據(jù)寫入方法、相關(guān)存儲(chǔ)器控制器以及數(shù)據(jù)儲(chǔ)存設(shè)備。背景技術(shù)、在極端環(huán)境下，α粒子(alpha?particle)可能對(duì)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存設(shè)備產(chǎn)生不利影響，例如，導(dǎo)致數(shù)據(jù)遺失或錯(cuò)誤。α粒子是一種帶有正電荷的粒子，它們通常在放射性衰變過程中產(chǎn)生，具有很高的能量和穿透力。當(dāng)數(shù)據(jù)儲(chǔ)存設(shè)備暴露在含有大量α粒子的環(huán)境中時(shí)，這些高能粒子可能會(huì)撞擊設(shè)備的敏感元件，如半導(dǎo)體儲(chǔ)存介質(zhì)和控制器。當(dāng)α粒子與設(shè)備內(nèi)部的電子發(fā)生相互作用時(shí)，可能導(dǎo)致局部的電荷失衡，從...
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