技術(shù)編號：40568652
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及顆粒表面黏附能測量技術(shù)，尤其涉及一種基于同步帶傳動(dòng)的離心式顆粒表面黏附能測量裝置、系統(tǒng)及方法。背景技術(shù)、在材料科學(xué)、化學(xué)工程、制藥工程等領(lǐng)域，顆粒表面黏附能對于理解顆粒表面性質(zhì)、優(yōu)化生產(chǎn)流程、提高產(chǎn)品質(zhì)量具有十分重大的意義。然而顆粒表面黏附能的測量是一個(gè)復(fù)雜的過程，因?yàn)樗婕暗筋w粒的物理化學(xué)性質(zhì)、顆粒形狀、尺寸分布以及外部環(huán)境等多個(gè)因素。、隨著技術(shù)的發(fā)展，顆粒表面黏附能的測量方法也在不斷發(fā)展，常見的測量方法包括原子力顯微鏡法(afm)、電場分離法、碰撞法等。這些方法各有優(yōu)缺點(diǎn)，適用...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。