技術(shù)編號：40572448
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及芯片檢測裝置，尤其是涉及一種瞬時高、低溫轉(zhuǎn)化測試芯片用探針裝置及其測試方法。背景技術(shù)、伴隨智能化的快速發(fā)展，芯片的需求量越來越大，芯片檢測技術(shù)的作用越來越舉足輕重。芯片在現(xiàn)代社會中廣泛應(yīng)用于通信、計算機、消費電子等領(lǐng)域，對芯片進行瞬時高、低溫轉(zhuǎn)化測試檢測的需求迫在眉睫。傳統(tǒng)的測試用探針裝置進行單一的高溫或低溫檢測具有低效率、成本高等問題，對推進測量芯片性能的發(fā)展造成了巨大阻礙。技術(shù)實現(xiàn)思路、本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是：為了解決傳統(tǒng)的測試用探針裝置進行單一的高溫或低溫檢測具有低效率、成...
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