技術(shù)編號：40572719
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于微波數(shù)模混合模塊，具體涉及一種微波數(shù)模混合模塊的高溫老煉試驗(yàn)方法。背景技術(shù)、隨著電子技術(shù)的發(fā)展，各類電子器件在復(fù)雜系統(tǒng)中的應(yīng)用日益廣泛，其質(zhì)量與可靠性成為了確保系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵因素。在這一背景下，可靠性試驗(yàn)的成為評估產(chǎn)品性能、篩選潛在缺陷、提升整體質(zhì)量不可或缺的一環(huán)。老煉試驗(yàn)，作為一種結(jié)合了電參數(shù)、功能及性能測試的綜合性可靠性篩選方法，能夠有效模擬產(chǎn)品在極端條件下的工作狀態(tài)，快速暴露并剔除存在早期失效風(fēng)險的個體，從而確保最終交付產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性達(dá)到預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)。、微波數(shù)?；旌夏K憑...
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