技術(shù)編號(hào)：40573317
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開實(shí)施例涉及半導(dǎo)體，特別涉及一種測(cè)試方法、測(cè)試電路、裝置以及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、存儲(chǔ)器裝置的操作速率，包含存儲(chǔ)器裝置的數(shù)據(jù)速率，已經(jīng)隨著時(shí)間而增加。作為存儲(chǔ)器裝置的速度增加的副作用，由于失真所致的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤可能增加。舉例來說，可能出現(xiàn)所傳輸數(shù)據(jù)之間的符號(hào)間干擾，因此先前接收到的數(shù)據(jù)影響當(dāng)前所接收數(shù)據(jù)(例如，先前接收到的數(shù)據(jù)影響且干擾隨后所接收的數(shù)據(jù))。校正此干擾的一個(gè)方式是通過使用決策反饋均衡器(dfe，decision?feedback?equalizer)電路，其可經(jīng)編程以抵消(即，...
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