技術(shù)編號(hào)：40573924
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及儲(chǔ)存芯片，尤其涉及一種基于多目標(biāo)優(yōu)化的儲(chǔ)存芯片能耗測試方法及裝置。背景技術(shù)、在現(xiàn)有的儲(chǔ)存芯片能耗測試技術(shù)中，通常面臨多個(gè)挑戰(zhàn)和局限，現(xiàn)有的測試方法往往采用單一目標(biāo)優(yōu)化策略，即通常只關(guān)注儲(chǔ)存芯片的某一方面性能，而忽略了其他性能指標(biāo)的影響，單一目標(biāo)的測試方法雖然在特定條件下獲得較好的測試結(jié)果，但由于忽視了不同測試目標(biāo)之間的相互影響，往往導(dǎo)致測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和全面性不足，無法全面反映儲(chǔ)存芯片在實(shí)際使用中的綜合性能表現(xiàn)，此外，現(xiàn)有技術(shù)中在測試過程中的參數(shù)設(shè)定往往是靜態(tài)的，即在測試開始前預(yù)先設(shè)...
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