技術(shù)編號(hào)：40574054
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及故障檢測，尤其涉及易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測方法、裝置及電子設(shè)備。背景技術(shù)、對于服務(wù)器等電子設(shè)備而言，內(nèi)存故障如易失性存儲(chǔ)芯片故障對設(shè)備造成的影響較為嚴(yán)重，如會(huì)引起設(shè)備宕機(jī)等問題，因此，對易失性存儲(chǔ)芯片的故障檢測尤為重要。在實(shí)際應(yīng)用中，通常是采用malloc方式從易失性存儲(chǔ)芯片的內(nèi)存空間中申請內(nèi)存以作為故障檢測的測試內(nèi)存塊，但是由于這種內(nèi)存申請方式所申請的內(nèi)存是在堆上隨機(jī)分配的，這樣會(huì)導(dǎo)致內(nèi)存的讀寫效率較低，從而降低故障檢測的效率。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、有鑒于此，本申請?zhí)峁┝艘资源鎯?chǔ)芯片故障...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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