技術(shù)編號：40583929
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開涉及一種分光測定裝置。背景技術(shù)、已知一種分光測定裝置，其包含：光入射部，其使被測定光入射；反射型衍射光柵，其將從光入射部入射的被測定光分光；光檢測器，其檢測由反射型衍射光柵分光的被測定光；以及透鏡，其將從光入射部入射的被測定光導(dǎo)光至反射型衍射光柵，并且將由反射型衍射光柵分光的被測定光的分光像形成于光檢測器的受光區(qū)域(例如，參照專利文獻)。在采用此光學(xué)系統(tǒng)(被稱為戴森光學(xué)系統(tǒng))的分光測定裝置中，有在被測定光的測定中波長分辨率提高的優(yōu)點。、另一方面，在采用戴森光學(xué)系統(tǒng)的分光測定裝置中，有...
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