技術(shù)編號(hào)：40584532
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及ct檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種ct檢測(cè)設(shè)備。背景技術(shù)、由于工業(yè)ct(computed?tomography，斷層掃描)系統(tǒng)同時(shí)具有直接數(shù)字化x射線攝影和計(jì)算機(jī)層析掃描成像而得到廣泛的應(yīng)用，比如在工業(yè)中對(duì)設(shè)備或部件的無損檢測(cè)。檢測(cè)過程主要是先通過光管對(duì)待檢測(cè)設(shè)備或部件進(jìn)行照射，探測(cè)器接收透過待檢測(cè)設(shè)備或部件的射線并轉(zhuǎn)換為數(shù)字圖像，在機(jī)械驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)控制下，光管和探測(cè)器不斷在滑軌上移動(dòng)以調(diào)整相對(duì)距離進(jìn)而控制放大倍率，實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)設(shè)備或部件的照射和成像，最后通過對(duì)圖像進(jìn)行重建和分析得到檢測(cè)結(jié)果。...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。