技術(shù)編號(hào):40586002
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)涉及芯片加工/檢測(cè)裝置的領(lǐng)域,尤其是涉及一種應(yīng)用于socket的ic分離裝置及方法。背景技術(shù)、socket(芯片測(cè)試座)是一種用于測(cè)試ic(芯片)的設(shè)備,當(dāng)ic插入socket內(nèi)后,socket內(nèi)的pogopin(彈簧針)會(huì)與ic接觸,測(cè)試過(guò)程中,socket對(duì)ic的引腳進(jìn)行電連接,并將測(cè)試信號(hào)發(fā)送到ic上。然后,socket會(huì)讀取ic的輸出信號(hào),并將這些信號(hào)傳輸?shù)綔y(cè)試設(shè)備中進(jìn)行分析。通過(guò)這種方式,可以確定ic的功能和性能是否符合規(guī)格。、相關(guān)技術(shù)中,對(duì)ic進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,測(cè)試環(huán)境處于...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。