技術(shù)編號：40601495
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及空間探測，尤其涉及一種基于地面宇宙線強度預(yù)測高能重離子通量的方法、裝置、電子設(shè)備、計算機可讀存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品。背景技術(shù)、高能重離子是導(dǎo)致在軌衛(wèi)星單粒子事件的重要因素，對衛(wèi)星的安全構(gòu)成嚴(yán)重威脅。國際航天界普遍關(guān)注的單粒子翻轉(zhuǎn)事件已被確認(rèn)是由高能帶電粒子轟擊微電子器件產(chǎn)生高密度電離，改變了原有的邏輯狀態(tài)而產(chǎn)生的，這種“軟錯誤”可造成錯誤信息和系統(tǒng)運行異常。如果微電子系統(tǒng)的某些關(guān)鍵部位被粒子擊中，還有可能引起鎖定，影響航天器的正常運行。研究顯示，由于高能重離子的電荷和質(zhì)量都遠(yuǎn)高于氫...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。