技術(shù)編號：40602589
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本技術(shù)涉及一種中子檢測設(shè)備，更具體地說，它涉及一種中子無損檢測設(shè)備準直系統(tǒng)。背景技術(shù)、中子無損檢測是指在不破壞被檢物結(jié)構(gòu)與形態(tài)條件下利用中子射線與物質(zhì)作用獲悉物質(zhì)內(nèi)部微觀與宏觀結(jié)構(gòu)與材料信息的檢測方法，對材料或者制件進行微觀宏觀缺陷、幾何特性、化學(xué)成分、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能及變化進行評定。、在需要檢測難以移動的待檢物體，通常通過可移動式中子無損檢測裝置移動到現(xiàn)場進行檢測，可移動式中子無損檢測裝置通常包括同位素、中子管、小型加速器中子源等小型中子源，結(jié)構(gòu)相對緊湊，靈活性高，加速器中子源通過加速質(zhì)...
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