技術編號：40606951
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本申請屬于高性能探針修飾，具體地講，涉及一種包裹二維材料的探針尖端結構及其制備方法。背景技術、在納米科技和材料科學的領域中，高分辨率探針技術如掃描近場光學顯微鏡(snom)和原子力顯微鏡(afm)扮演著至關重要的角色。這些技術不僅能夠以納米尺度進行表面成像和測量，還能夠揭示材料結構與性質(zhì)之間微妙的關聯(lián)，從而推動了微納米技術的發(fā)展和應用。、snom作為一種非接觸式的光學顯微技術，利用探針尖端與樣品表面極近距離的交互作用，使得能夠超越傳統(tǒng)光學分辨極限，實現(xiàn)超高分辨率的光學成像。它在生物醫(yī)學領域中...
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