技術(shù)編號(hào)：40613706
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。發(fā)明領(lǐng)域本發(fā)明總體上涉及用于光學(xué)感測(cè)和成像的設(shè)備和方法，且特別涉及集成光子設(shè)備和包含這種設(shè)備的系統(tǒng)。背景技術(shù)、背景、在許多光學(xué)感測(cè)應(yīng)用中，通過(guò)一束或多束光束在目標(biāo)上輻照多個(gè)點(diǎn)，并且來(lái)自每個(gè)點(diǎn)的反射輻射被處理以分析目標(biāo)的特性。在一些應(yīng)用中，諸如光學(xué)相干層析成像(oct)和cw?lidar，相干光束朝向目標(biāo)發(fā)射，并且反射輻射與所發(fā)射的輻射相干地被感測(cè)和處理。為了以高分辨率感測(cè)目標(biāo)的特性，應(yīng)該通過(guò)在感興趣區(qū)域內(nèi)掃描發(fā)射的光束或者通過(guò)同時(shí)發(fā)射和感測(cè)多個(gè)光束的陣列來(lái)密集地探測(cè)該區(qū)域。然而，掃描解決方案...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。