技術(shù)編號：40618275
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體與集成電路，尤其涉及一種測試電路、測試系統(tǒng)及存儲系統(tǒng)。背景技術(shù)、芯片測試器(tester)是一種用于檢測集成電路(integrated?circuit，簡稱ic)和其他半導(dǎo)體器件功能和性能的設(shè)備。芯片測試器可以針對不同的應(yīng)用需求，采用不同的技術(shù)實現(xiàn)測試，包括但不限于針對微控制器、現(xiàn)場可編程門陣列(field?programmable?gatearray，簡稱fpga)、單片機等作為核心控制單元的測試。近年來，針對高密度和復(fù)雜功能集成電路的芯片測試器出現(xiàn)了多種新的技術(shù)趨勢，包括以...
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