技術(shù)編號(hào)：40627097
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及超導(dǎo)材料短樣品臨界測試，具體涉及一種高溫超導(dǎo)材料短樣品的臨界特性測試樣品桿。背景技術(shù)、自從bednorz和mu?l?l?er于年首次發(fā)現(xiàn)高溫超導(dǎo)體以來，它因其高臨界溫度(tc)和上臨界磁場(hc)而引起了人們的廣泛關(guān)注。經(jīng)過多年的發(fā)展，高溫超導(dǎo)體(hts)的性能大幅提高，成本降低。溫度參數(shù)一直被認(rèn)為是影響超導(dǎo)材料的臨界電流(ic)的關(guān)鍵參數(shù)。在超導(dǎo)體穩(wěn)定性的研究中，需要變溫測量ic來確定導(dǎo)體的溫度裕度。在設(shè)計(jì).k或k以外的溫度下工作的磁體時(shí)也需要這些參數(shù)。、在日內(nèi)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。