技術(shù)編號(hào)：40633030
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明實(shí)施例涉及半導(dǎo)體測(cè)試，尤其涉及一種半導(dǎo)體測(cè)試報(bào)告生成方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、在半導(dǎo)體行業(yè)中，半導(dǎo)體芯片的測(cè)試結(jié)果一般會(huì)輸出為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試數(shù)據(jù)文件（standard?test?data?file，stdf），通過對(duì)stdf文件中的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行解析、加工等處理可以生成半導(dǎo)體測(cè)試報(bào)告，以便通過半導(dǎo)體測(cè)試報(bào)告確定半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量情況。、在實(shí)際應(yīng)用中，半導(dǎo)體測(cè)試報(bào)告可能是耗費(fèi)人力純手工制作的，先對(duì)stdf文件進(jìn)行解析導(dǎo)出成電子表格excel文件，然后用excel中的函數(shù)對(duì)excel文件...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。