技術(shù)編號：40633305
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及檢測，特別是涉及一種缺陷驗證方法、裝置、計算機設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、工業(yè)產(chǎn)品由于需要經(jīng)過制造、運輸或儲存等多重步驟，難免會出現(xiàn)缺陷，因此就需要高可信度的缺陷檢測方法對工業(yè)產(chǎn)品進行缺陷檢測，以確定缺陷點在工業(yè)產(chǎn)品上的大致方位，以備實現(xiàn)進一步的缺陷點精確檢測。、相關(guān)技術(shù)多通過雙重驗證的缺陷驗證方法提高缺陷檢測的可信度，即獲得通過多種缺陷檢測方式對同一待檢測圖像進行檢測得到的多張待驗證圖像，進而對多張待驗證圖像執(zhí)行逐像素相“與”操作，從而在待驗證圖像上確定缺陷像素點所在的位置。...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。