技術(shù)編號：40633896
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及光學(xué)領(lǐng)域，具體地，涉及一種折射率的測量裝置、測量設(shè)備和測量方法。背景技術(shù)、臨界角測試法、相變測量法、干涉條紋差分法和光線衍射法等都可以用于測量材料的折射率，這些測量方法往往需要在較為苛刻的條件下才能獲得精度較高的測量結(jié)果，這在一定程度上限制了使用這些測試方法的測試裝置在梯度色譜中的應(yīng)用。、如何提高折射率的測量精度是值得考慮的問題。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本申請?zhí)峁┮环N折射率的測量裝置、測量設(shè)備和測量方法，測量光線在經(jīng)線性波帶片衍射后可以在成像傳感器上形成包含多條線狀光斑的衍射圖案，利用該衍...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。